2019 Business Intelligence Conference

1. 장소 및 일시

    서울 코엑스, 2019년 4월 11일(목)

2. 발표자

    이창현, 도형록

3. 발표 논문 제목

    이창현: GASNet: Generation and Segmentation Networks for Identifying Wafer Defect Patterns

    도형록: Binary Classification Via Class Description Networks